ACTUALITÉS
Retours d’expérience, évolution d’une norme, nouveaux matériels de mesure, événements professionnels… retrouvez dans cette rubrique tout ce qui fait l’actualité de Comma Consulting… et la vôtre.
Journée technique « Gestion des équipements et optimisation des périodicités d'étalonnage"
Le Collège Français de Métrologie organise une dizaine de journées techniques sur l’année. Ces journées regroupant entre 40 et 70 personnes permettent aux participants et aux intervenants de passer une journée ensemble pour un maximum de partage des connaissances, des retours d’expériences…
La gestion des équipements de mesure ne se résume pas à la maîtrise des fiches de vie qui retracent leur historique. Il convient de réfléchir plus largement en ayant une vision processus : étalonnage, vérification, incertitudes de mesure, surveillance de processus et, bin sûr, gestion dynamique des périodicités d'étalonnage.
Ces dernières ont un impact direct sur le budget financier de la gestion des équipements. Il convient des réaliser les étalonnages et les vérificétions ni trop tôt, ni trop tard, mais au juste à temps. Comment faire ?
La journée du 16 novembre, à Paris, de 9h 30 à 17h, proposera des réponses et des solutions pour une gestion optimale.
Au cours de cette journée, Patrick LEBLOIS, gérant de la société COMMA CONSULTING, interviendra pour rappeler les principes de l'étalonnage et de la vérification ainsi que pour vous aider à exploiter les résultats d'étalonnage et de vérification dans le but d'améliorer l'efficacité de votre fonction métrologie.
Pour avoir le programme détaillé et vous inscrire :
http://www.cfmetrologie.com/fr/journee-technique/16-novembre-detail
Journée technique "Vérification et étalonnage : définition et besoin et exploitation des documents" 10 octobre 2017
Bien que les concepts d'étalonnage et de vérification soient plutôt bien assimilés dans nos entreprises, l'expérience montre que l'exploitation des certificats d'étalonnage et des constats de vérification présente parfois des difficultés et, surtout, qu'il serait parfois facile d'en tirer un plus-value notable.
Le CFM organise une journée technique le 10 octobre 2017 au NOVOTEL Gare de Lyon à Paris, de 9h 30 à 17h. Patrick LEBLOIS, gérant de la société COMMA CONSULTING, y fera une présentation sur l'exploitation des certificats d'étalonnage et de leur historique.
Mesurer au quotidien et inventer le futur lors du CIM 2017
Le congrès International de métrologie se déroulera du 19 au 21 septembre 2017 (CIM 2017), à Paris, Porte de Versailles.
Le CIM est un évènement unique à la croisée des chemins entre applications industrielles et R&D pour tout public et tous secteurs : utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, laboratoires publics et privés, fabricants et prestataires. Il permet :
- d'améliorer ses processus de mesure, d'analyses et d'essais et de mieux maîtriser leurs risques ;
- de suivre les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et leurs implications industrielles.
Les sujets forts : métrologie 4.0 et usine du futur, nouvelle norme ISO 17025, métrologie pour les laboratoires de biologie, la santé et le pharmaceutique, développements dans l'énergie, nanotechnologies.
le CIM 2017 est organisé conjointement avec ENOVA, le salon des technologies Electronique, IoT, Mesure, Vision et Optique.
Patrick LEBLOIS, dirigeant de COMMA CONSULTING sera présent à cette manifestation internationale qui réunit plus de 800 participants issus de près de 40 pays.
Pour se tenir informé des dernières évolutions scientifiques et techniques, rencontrer des partenaires et se tisser un réseau professionnel, le CIM reste toujours au sommet de la métrologie !
Programme et informations sur le site www.cim2017.com
Retour sur la journée technique du 8 octobre 2015
Journées techniques ou comment rester à la pointe
Plusieurs fois dans l’année, le Collège français de métrologie organise des journées techniques sur des thématiques bien précises. Objectif : vulgariser la métrologie et diffuser sa culture au sein des entreprises. En octobre dernier, Comma Consulting animait une journée technique réunissant près de 60 participants francophones autour d’une demi-douzaine d’intervenants. Le sujet central était des plus stratégiques : la vérification et l’étalonnage, de la définition du besoin jusqu’à l’exploitation des résultats. Répondre aux exigences réglementaires et techniques, optimiser les processus de mesure, s’adapter aux évolutions technologiques mais aussi exploiter des certificats d’étalonnage, interpréter des historiques… l’intégralité du processus a été passée en revue. Des aspects novateurs tels que la modélisation des corrections d’étalonnage ont également été abordés en détail (logiciel MCARE disponible gratuitement ici).
Aussi pointus soient-ils, ces sujets sont présentés dans leurs grands principes mais aussi, et surtout, à travers des retours d’expérience permettant à tous les participants de bien appréhender les enjeux de l’étalonnage et de la vérification des systèmes de mesure. Une journée technique de plus qui a mis en lumière la place importante du métrologue dans la dynamique d’amélioration chez le client.
